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涂层测厚仪为什么要选择带有统计功能

涂层测厚仪是一种专门用于各种漆膜厚度无损检测的便携式仪器,如果您对各种涂层测厚仪有过研究会发现;


有些涂层测厚仪只能单一测量单次数值,而有些涂层测厚仪带有快速测量功能;


一次可以检测几个数值,然后对这些多次测量的数值进行统计分析?


那你知道为什么要对测量的涂层厚度进行统计吗?统计有什么作用?


涂装行业的人员都知道,测量涂层厚度时,多数测量都会受到随机因素的影响,比如材料表面粗糙度;


即使涂装后,也会因为表面脏污,灰尘等各种因素影响;


而且在多数涂层工艺中,都会出现不对称的分布情况,因此单一值无法描述测量实体真正的定量属性。


需要进行重复测量并获得多个单独测量值。同时还需要用到统计方法,来对重复测量结果进行评估。


涂层测厚仪放入统计功能可得出大量测量值的平均值和相应的方差。


由此可计算出各值在平均值附近的分布情况。


通常,该分布会形成高斯钟形曲线一种可应用于众多技术工艺的曲线;


该曲线会显示基于测量值得到的可能的分布情况,通过统计分析,能够预测出整个过程中的涂层厚度。

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